存储芯片大扩产:HBM(高带宽内存)制备设备厂商梳理

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存储芯片大扩产:HBM(高带宽内存)制备设备厂商梳理

前言:6月29日,韩国政府计划投资800万亿韩元新建四座半导体工厂,计划在五年内将DRAM生产能力翻倍,并预计全球内存市场将在5年内增长四倍。

一. HBM概览

高带宽内存(HBM)是一种基于3D垂直堆叠工艺的高性能DRAM存储器,专为高端AI芯片场景设计。

HBM自2013年推出以来,目前已迭代至HBM4,全球市场呈三强垄断格局,SK海力士、三星、美光合计占据95%以上份额。

1.1 技术架构

HBM采用3D堆叠+2.5D集成架构:

(1)3D堆叠:通过硅通孔(TSV)、微凸块将多层DRAM颗粒(4-16层)垂直堆叠为一体。

(2)2.5D集成:将垂直堆叠的HBM堆栈与GPU共同贴装在硅中介层(Interposer),主要采用台积电CoWoS工艺。

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1.2 主要特点

(1)优点:超高带宽、能效优异(信号传输路径大幅缩短)、小体积(高集成度),适合高密度部署场景。

(2)挑战:技术门槛高(TSV、微凸点、2.5D封装)、制造成本高(工艺复杂、良率低)、散热要求高(芯片内部多层堆叠)。

二. HBM制备环节设备厂商

2.1 硅通孔(TSV)制备

(1)目的:价值量最高环节,在DRAM晶圆内钻孔并填充导电材料,实现垂直互连;并在孔壁沉积绝缘层,提供电气隔离。

(2)工艺步骤:深硅刻蚀(DRIE)→绝缘层沉积→阻挡层/种子层沉积→铜电镀填充→晶圆减薄→表面平坦化(CMP)。

(3)设备厂商:中微公司(深硅刻蚀设备)、北方华创(TSV全流程)、微导纳米(ALD沉积设备)、华海清科(CMP/减薄设备)。

2.2 微凸块制备

(1)目的:在DRAM颗粒表面制作微米级金属凸点,实现DRAM层间、HBM堆栈与中介层之间的电气连接,替代传统引线键合。

(2)工艺步骤:光刻显影→凸点下金属化(UBM)→凸块电镀→去胶刻蚀→回流成型。

(3)设备厂商:芯源微(涂胶显影设备)、盛美上海(电镀/清洗设备)。

2.3 堆叠键合

(1)目的:将多个DRAM颗粒精准对齐并键合,形成完整的 HBM 堆叠结构;HBM4开始从热压键合(TCB)向混合键合(Cu-Cu)过渡。

(2)工艺步骤:表面平坦化→精准对准→临时键合与解键合→永久键合→堆叠固化。

(3)设备厂商:拓荆科技(混合键合设备)。

2.4 检测与量测

(1)目的:全流程监控工艺良率,检测TSV填充缺陷、凸点精度、键合质量、堆叠应力、电性参数等。

(2)分类:形貌量测、缺陷检测、电性测试等。

(3)量检测设备(形貌/缺陷):精测电子、中科飞测、赛腾股份

(4)电性测试设备:华峰测控、长川科技、精智达


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