格隆汇12月17日｜天风证券分析师郭明錤今天（12月17日）发布投资研究报告，表示英伟达正为GB300和B300开发测试DrMOS技术，发现AOS的5x5DrMOS芯片存在严重过热问题。这一问题可能影响系统量产进度，并改变市场对AOS订单的预期。消息称英伟达优先测试来自AOS的5x5DrMOS，一方面是增强对MPS的议价力以降低成本，另一方面AOS拥有更丰富的5x5DrMOS设计与生产经验。供应链消息称导致AOS的5x5DrMOS过热问题的原因，除了芯片本身之外，还源于系统芯片管理等其它方面的设计不足。